关于谱线轮廓介绍
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[拼音]:蒲仙lunkuo
【外语】:线条轮廓
光谱线轮廓常用于描述光谱线能量随波长的相对分布。设线频内v、v和Fv表示辐射强度和辐射流量(参见辐射传递理论)，I捒、F捒表示对应同一频率连续谱的量。rv=Fv/F捒或rv=Iv/I捒称为残余强度。谱线上频率v处的深度用Rv表示，其与残余强度Rv的关系为Rv=1-rv。以rv为纵坐标，v为横坐标，得到的残余强度rv随频率变化曲线为谱线轮廓(如图所示)。吸收线的光谱线轮廓与连续的光谱背景所包围的面积，即图中阴影部分，是光谱线吸收总能量的量度，因此称为总吸收。它代表了恒星光谱中吸收谱线的强度，面积越大，吸收谱线越强。总吸收也可以用一个面积和高度相等的矩形来表示。在这种情况下，矩形的宽度在数值上等于总吸收，因此总吸收也称为等效宽度(用Wv表示)。如果以波长作为图中的横坐标，则对应的残余强度和等效宽度分别用r和W表示。狭缝摄谱仪得到的谱线轮廓常受狭缝宽度和衍射现象的影响而发生畸变。假设光谱线是无限窄的，但观测到的光谱线轮廓总是有一定的宽度，称为仪器轮廓。观测到的光谱线轮廓是仪器轮廓和真实光谱线轮廓的叠加。为了获得真实的光谱线轮廓，必须从观测到的光谱线轮廓中扣除仪器轮廓的影响。影响谱线轮廓的因素包括辐射阻尼、多普勒效应、压力效应、恒星自转、恒星大气膨胀和湍流。
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